-
GDCL-V 20kV/10kA Sistem de testare cu undă combinată de impulsuri Soluție tehnică
Echipamentul este în conformitate cu cerințele de testare a valului combinat al sistemului de distribuție a energiei de joasă tensiune SPD II, permite generarea de tensiune de impuls (1,2/50μs) și curent de impuls (8/20μs), este utilizat pentru testul de gradul III și testul de tensiune de limitare de SPD și componente.
Sistem de testare cu val de compoziție
Trimite-ne mesajul tau:
Scrie mesajul tău aici și trimite-l nouă